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半導(dǎo)體器件試驗(yàn)冷熱沖擊試驗(yàn)箱

產(chǎn)品簡介

半導(dǎo)體器件試驗(yàn)冷熱沖擊試驗(yàn)箱是一種具有溫度控制功能的設(shè)備,通過快速改變溫度來模擬芯片在不同環(huán)境下的工作狀態(tài)。它可以迅速將芯片從較低溫度迅速加熱到較高溫度,或者相反。這種溫度的迅速變化可以導(dǎo)致材料的膨脹和收縮,從而引發(fā)物理和化學(xué)性質(zhì)的改變。

產(chǎn)品型號(hào):
更新時(shí)間:2024-10-08
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問量:1855
詳細(xì)介紹在線留言

半導(dǎo)體器件試驗(yàn)冷熱沖擊試驗(yàn)箱是一種具有溫度控制功能的設(shè)備,通過快速改變溫度來模擬芯片在不同環(huán)境下的工作狀態(tài)。它可以迅速將芯片從較低溫度迅速加熱到較高溫度,或者相反。這種溫度的迅速變化可以導(dǎo)致材料的膨脹和收縮,從而引發(fā)物理和化學(xué)性質(zhì)的改變。通過在冷熱沖擊箱中進(jìn)行長時(shí)間的測試,科學(xué)家們可以模擬芯片在不良條件下的工作情況,以便評(píng)估其性能和可靠性。

在冷熱沖擊箱中進(jìn)行的測試通常包括冷凍、加熱和恒溫三個(gè)階段。首先,芯片會(huì)被暴露在較低溫度的環(huán)境中,來模擬在寒冷的氣候下工作時(shí)的情況。然后,溫度會(huì)迅速上升到較高的水平,來測試芯片在高溫環(huán)境下的穩(wěn)定性和性能。至后,在恒溫條件下進(jìn)行長時(shí)間測試,來模擬芯片在常溫環(huán)境下的工作情況。通過這一系列的測試,科學(xué)家們可以綜合評(píng)估芯片在不同溫度下的性能和可靠性,為電子設(shè)備的開發(fā)和制造提供重要的參考依據(jù)。


規(guī)格技術(shù)參數(shù):


 型號(hào):BY-260D

 ①規(guī)格(容量):63升

 測試區(qū)尺寸:400*350*350(W*D*Hmm)

 外形尺寸(約):1500*1450*1900(W*D*Hmm)

 ②規(guī)格(容量):80升

 測試區(qū)尺寸:500*400*400(W*D*Hmm)

 外形尺寸(約):1600*1500*2000(W*D*Hmm)

 ③規(guī)格(容量):150升

 測試區(qū)尺寸:600*500*500(W*D*Hmm)

 外形尺寸(約):1700*1600*2000(W*D*Hmm)

 ④規(guī)格(容量):225升

 測試區(qū)尺寸:500*600*750(W*D*Hmm)

 外形尺寸(約):1800*1800*2000(W*D*Hmm)

 ⑤規(guī)格(容量):500升

 測試區(qū)尺寸:800*800*800(W*D*Hmm)

 外形尺寸(約):2600*1900*2000(W*D*Hmm)

 ⑥規(guī)格(容量):1000升

 測試區(qū)尺寸:1000*1000*1000(W*D*Hmm)

 外形尺寸(約):2800*2000*2200(W*D*Hmm)

 高溫儲(chǔ)熱范圍:+60℃--+200℃

 低溫儲(chǔ)冷范圍:-10℃~-55℃(A型),-10℃~-65℃(B型),-10℃~-75℃(C型)

 試驗(yàn)范圍:

 高溫:+60℃~+150℃

 低溫:-10℃~-40℃(A型);-10℃~-55℃(B型);-10~-60℃(C型)

 升溫時(shí)間:+60℃~+200℃約需25min

 降溫時(shí)間:+20℃~-55℃小于60min;+20℃~-65℃小于75min;+20℃~-75℃小于90min;

 風(fēng)門切換時(shí)間:小于或等于10S

 溫度恢復(fù)時(shí)間:5min

 溫度波動(dòng):±0.5℃

 溫度偏差:±2℃

 免費(fèi)送貨上門,并安裝調(diào)試操作介紹,同時(shí)進(jìn)行機(jī)器操作技術(shù)培訓(xùn)。(直到需方員工獨(dú)立操作并滿意為止)。

 本產(chǎn)品符合GB/T2423.1.2GB10592-89GJB150等國家標(biāo)準(zhǔn)。


溫度程控器:7寸液晶數(shù)顯觸摸屏控制器。

   a.控制器規(guī)格:精度:±0.1℃+1digit.分辨率:±0.1.

   具有上下限待機(jī)及警報(bào)功能.

   溫度入力信號(hào):T型感溫線.P.I.D控制參數(shù)設(shè)定,P.I.D自動(dòng)演算.

   b.畫面顯示功能:采用圖控軟件畫面對(duì)談式,無須按鍵輸入,屏幕直接觸摸選項(xiàng):

   包括程序設(shè)定、曲線顯示、歷史數(shù)據(jù)、手動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)、自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)、輔助設(shè)定等.

   可顯示目前執(zhí)行狀態(tài)、溫度設(shè)定值、時(shí)間設(shè)定值、剩余時(shí)間、剩余循環(huán)次數(shù)

   具單獨(dú)程序編輯畫面,可輸入溫度,時(shí)間及循環(huán)次數(shù).

   溫度程序具實(shí)時(shí)顯示程序曲線執(zhí)行功能

   顯示故障狀態(tài)及說明故障排除方法

   屏幕可作背光調(diào)整,屏幕顯示保護(hù)功能可作定時(shí),關(guān)閉設(shè)定.

   中、英文可相互切換.

   c.程序容量及控制功能:

   可使用的程序組:120個(gè)PATTEN。

   可重復(fù)執(zhí)行命令:可達(dá)999次。LSEGMENTS時(shí)間設(shè)定0~99Hour59Min。

   程序之制作采對(duì)談式設(shè)定功能。

   9組程序相互連接功能.

   具有斷電程序記憶,復(fù)電后自動(dòng)啟動(dòng)并接續(xù)執(zhí)行程序功能。

   高低溫沖擊時(shí)自動(dòng)補(bǔ)償溫度功能.

   程序執(zhí)行時(shí)可實(shí)時(shí)顯示圖形曲線。

   除霜時(shí)間、次數(shù)及除霜溫度設(shè)定及執(zhí)行功能.

   具有預(yù)約啟動(dòng)及關(guān)機(jī)功能.

   具有日期,時(shí)間調(diào)整功能.


半導(dǎo)體器件試驗(yàn)冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要配置:

  1、內(nèi)箱材質(zhì)采用SUS304不銹鋼板,外箱材質(zhì)采用SEEC鋼板外加靜電噴涂或不銹鋼拉絲板,增加外觀質(zhì)感及潔凈度,造型美觀大方。

  2、箱體保溫層采用高強(qiáng)度PU及保溫棉,達(dá)到優(yōu)良的保溫效果。

  3、試驗(yàn)箱配置50mm,測試孔,配發(fā)泡硅膠塞密封,可外接測試電源線或信號(hào)線使用。

  4、機(jī)器底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動(dòng)輪,附水平腳。

  5、7英寸溫濕度控制器,具有操作簡單,易學(xué),控制精度高,PID模式,可10%以上。

  6、可以獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫、冷熱沖擊三種不同條件,具備高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能。

  7、可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動(dòng)(手動(dòng))除霜.出風(fēng)口于回風(fēng)口感知器檢測控制,風(fēng)門機(jī)構(gòu)切換時(shí)間為10秒內(nèi)完成。

  8、具備全自動(dòng),高精密系統(tǒng)回路、任一機(jī)件動(dòng)作,*有P.L.C鎖定處理,全部采用P.I.D自動(dòng)演算控制。

  9、溫度恢復(fù)時(shí)間為5分鐘內(nèi)完成。

  10、運(yùn)轉(zhuǎn)中發(fā)生異常狀況時(shí),螢?zāi)簧霞纯套詣?dòng)顯示故障原因,并于發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時(shí),具有緊急停機(jī)裝置。

  11、可選配USB接口存儲(chǔ)方便,到有標(biāo)準(zhǔn)的RS-232或RS-485計(jì)算機(jī)通訊接口。實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程控制。




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